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#TIRI_NEWS #都産技研 \\設備紹介// 電子部品、金属材料、薄膜など種々の試料表面を、低倍から約100万倍までの倍率で幅広く観察可能な超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)をご紹介!付属するエネルギー分散形X線分析装置で定性分析も可能です! iri-tokyo.jp/site/tiri-news… pic.twitter.com/LGgsPYI6ZX

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東京都立産業技術研究センター@tiri_koho

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