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〈プレスリリース〉デバイス材料中の電子スピンの計測時間をAI導入により大幅に短縮~放射光により次世代超高速・省エネ情報デバイス材料の開発に突破口~ jst.go.jp/pr/announce/20… 計測時間を従来の1/10と実用レベルにまで短縮することに成功しました。 #JST #科学技術振興機構 #さきがけ pic.x.com/yvefpnfgbj

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本計測技術を、量子科学技術研究開発機構が整備・運用する高輝度な軟X線が利用できる3GeV高輝度放射光施設NanoTerasuに導入することによって、1日以内で十分な精度の計測が実施可能となり、次世代情報デバイス開発を強力に推進できる環境が世界に先駆けて整うことになります。 jst.go.jp/pr/announce/20…

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