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明視野、暗視野、偏光、UV 照明などのコントラスト法を組み合わせた顕微鏡が半導体検査をどのように強化するかを確認してください。ウェーハと集積回路 (IC) の品質管理中に、迅速かつ信頼性の高い欠陥検出が実現します。 #ライカ #Leica

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Leica Microsystems@LeicaMicro

Read this article to see how microscopes combining contrast methods, e.g. brightfield, darkfield, polarized light, and UV illumination, enhance semiconductor inspection. During QC of wafers and integrated circuits (ICs), fast and reliable defect detection is achieved.

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